冷熱沖擊交變模擬環(huán)境老化箱用于電子電器零組件、自動(dòng)化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、塑膠等行業(yè)，國防工業(yè)、 航天、工業(yè)、電子芯片IC、半 導(dǎo)體陶瓷及高分子材料之物理性變化。

三箱設(shè)備區(qū)分為高溫區(qū)、低溫區(qū)、測(cè)試區(qū)三部分，測(cè)試樣品*靜止于測(cè)試區(qū)。采用*之蓄熱、蓄冷結(jié)構(gòu)，強(qiáng)制冷熱風(fēng)路切換方式導(dǎo)入測(cè)試區(qū)，沖擊時(shí)高溫區(qū)或低溫區(qū)的溫度沖入測(cè)試區(qū)進(jìn)行沖擊,完成冷熱溫度沖擊測(cè)試。

可獨(dú)立設(shè)定高溫、低溫及冷熱沖擊三種不同條件之功能，執(zhí)行冷熱沖擊條件時(shí)，可選擇2箱或3箱之功能并具有高低溫試驗(yàn)機(jī)的功能,相比于2箱沖擊它還可選擇做常溫沖擊。

冷熱沖擊交變模擬環(huán)境老化箱符合標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T2423.1-1989低溫試驗(yàn)方法； GB/T2423.2-1989高溫試驗(yàn)方法；

GB/T2423.22-1989溫度變化試驗(yàn)； GJB150.5-86溫度沖擊試驗(yàn)；

GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn)； GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗(yàn)；

SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——一箱式；

SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——二箱式；

IEC68-2-14_試驗(yàn)方法N_溫度變化；

GB/T 2424.13-2002試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則；

GB/T 2423.22-2002溫度變化；

QC/T17-92汽車零部件耐候性試驗(yàn)一般規(guī)則；

EIA 364-32熱沖擊（溫度循環(huán)）測(cè)試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評(píng)估；